IC微開(kai)短路(lu)測試系統IC-TEST SYSTEM-N2/N4
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IC-TEST SYSTEM-N2/N4是Comshare針(zhen)對芯(xin)片(pian)管腳(jiao)微損(sun)傷的(de)檢測需求而開發(fa)的(de)一款半導(dao)體電(dian)性能測試項系(xi)統(tong)。功能特點(Function and specialty)：
★ 可同時控制與量測高精度電壓、電流，專為消費性電子產品、
IC設計與驗證、學術研究等實驗室提供電性能測試；
★ 最小電流精度：100pA，最小電壓精度：100uV；
★ 電壓輸出范圍：±10V，電流輸出范圍：±100mA；
★ 專為LCM行業優化；
★ 輸出靈活可配，具有四象限輸出；
★ 用戶自定義快速掃描IV曲線，可根據IV曲線的差異自動定位IC微損傷；
★ 可彈性擴充通道數：支持64通道、128通道、256通道、512通道等；
★ 支持標配一拖二、擴展一拖四等配置，LCM全通道測試時間小于2s；
適用范圍( Using field)：
TP-TESTER廣泛應用于手機、智能穿戴、平板、車載屏等產業鏈的觸控IC、FPC的燒錄、測試和SENSOR、TP的測試，適用于GFF、OGS、COB、ONCELL、INCELL、TDDI、AMOLED。
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